天瑞儀器edx1800b產(chǎn)品詳細(xì)技術(shù)資料介紹，天瑞儀器edx1800b參數(shù)和性能配置請(qǐng)咨詢(xún)江蘇天瑞儀器股份有限公司銷(xiāo)售部提供rohs檢測(cè)儀EDX1800b產(chǎn)品報(bào)價(jià)和說(shuō)明。一鍵式設(shè)計(jì)的xrf測(cè)試儀器被廣泛應(yīng)用于rohs指令的有害物質(zhì)含量測(cè)試和分析，無(wú)需化學(xué)前處理的特性，適合工廠提供分析效率，簡(jiǎn)化測(cè)試手段。
x熒光光譜儀主要特點(diǎn)
1.檢測(cè)對(duì)象:液體/固體/粉末-固體樣品:點(diǎn)射配件-液體樣品:樣品池配件，適用于8mm瓶,NMR管和MP管 
2.顯微鏡:可選顯微鏡配件
3.便攜式：-重量輕-遠(yuǎn)程控制-藍(lán)牙無(wú)線數(shù)據(jù)傳輸(或U)-電池可持續(xù)運(yùn)作5小時(shí)-數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)充 
4.全球小的高性能光譜
5.120mW激發(fā)光源，功率可變
6.熒光成像可選
7.達(dá)到限衍射的成像和光譜
8.數(shù)據(jù)庫(kù)可無(wú)限擴(kuò)展

產(chǎn)品特點(diǎn)
快速：一般測(cè)量一個(gè)樣品只需要1～3分鐘
無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品性質(zhì)
直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然
環(huán)保：檢測(cè)過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水

RoHS檢測(cè)儀是一款集鹵素指令、RoHS指令、重金屬指令于一體的X熒光光譜儀。對(duì)鉛、汞、鎘、鋇等元素有很好的檢測(cè)下限以及精度。X熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，可以測(cè)定元素含量。近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得多也廣泛。大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。

應(yīng)用領(lǐng)域
固廢快速檢測(cè)
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè)
主要用于固廢行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀行、飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)
儀器配置
樣品平臺(tái)
信噪比增強(qiáng)器
SDD探測(cè)器
檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
ROHS檢測(cè)儀相關(guān)基礎(chǔ)術(shù)語(yǔ)知識(shí)
1.精密度
定義為同一樣品多次測(cè)定的平均值m和各次測(cè)定值mi之差。換句話(huà)說(shuō)，精密度是重現(xiàn)性（Reproducibility或Repeatability）。X熒光分析 的精度是和測(cè)量的時(shí)間有關(guān)的，測(cè)量的時(shí)間越長(zhǎng)，則精度越高。
2.重復(fù)性
定義為儀器測(cè)同一款樣品的連續(xù)測(cè)試十一次或二十一次的相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差。
3.準(zhǔn)確度
定義為各次測(cè)定值mi對(duì)于真值（t）的偏差。因而，若精密度差，準(zhǔn)確度也一定差。反之，準(zhǔn)確度很差，精密度確有時(shí)很高。這是因?yàn)橛袝r(shí)可能有系統(tǒng)誤差的存在。要想可靠性（Reliability）好，精密度和準(zhǔn)確度都要求高。
4.誤差
X熒光分析的誤差往往是很難計(jì)算的，所以，通常情況下，把統(tǒng)計(jì)漲落引起的誤差作為測(cè)量的誤差。
5.檢出限（Limit of detection）
當(dāng)獲得背景強(qiáng)度標(biāo)準(zhǔn)偏差三倍以上的峰值強(qiáng)度時(shí)的元素含量，稱(chēng)為檢出限（或叫檢出限）。這時(shí)候，測(cè)到的含量的置信度（可信的程度）是99.87％.測(cè)定檢出，一般要用含量比較低的樣品來(lái)測(cè)量。檢出限因所用試樣（基體）的不同而不同。
6.計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差
在放射性物質(zhì)的測(cè)量中，假設(shè)儀器穩(wěn)定性、機(jī)械在現(xiàn)性可確保，由儀器機(jī)械產(chǎn)生的誤差可以忽略不計(jì)，但計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)誤差還是不能。X射線強(qiáng)度是把入射到計(jì)數(shù)器上的光子變成脈沖后計(jì)數(shù)而得到的。因而計(jì)數(shù)值在本質(zhì)上具有統(tǒng)計(jì)誤差。 被測(cè)X射線的計(jì)數(shù)值（N）的分布屬于隨機(jī)事件，其標(biāo)準(zhǔn)偏差由 N求出。 N叫統(tǒng)計(jì)誤差。時(shí)間越長(zhǎng)，則相對(duì)偏差越小，即精度越高。
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