電鍍簡單的說就是將接受電鍍的部件浸于含有被沉積金屬化合物的水溶液中,以電流通過鍍液,使電鍍金屬析出并沉積在部件上。因為用途和材料不同，一般的電鍍有鍍鋅、鍍金、鍍銀、鍍鉻、鍍錫、鍍鎳和鍍銅鎳合金等，根據(jù)需要鍍層又分為一層、二層和多層電鍍等。從技術(shù)方便來話，電鍍的鍍層不僅僅要平整還要均勻，而對電鍍的鍍層厚度要求也要，比如電鍍金，鍍的太厚，電鍍廠家的成本就要增加，而鍍的薄了，又可能滿足不了客戶的需求，所以電鍍的膜厚測量也是電鍍技術(shù)能力和成本的一個重要指標。
專業(yè)提供電鍍鍍層膜厚儀Thick 800A，解決客戶鍍層膜厚測量的難題

利用X射線穿透被測材料時,X射線的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,從而測定材料的厚度,是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。針對檢測樣本的不同種類，可在下列3種型中進行選擇。測量引線架、連接器等各類電子元器件的微型部件、超薄薄膜的型，能夠處理尺寸為600 mm×600 mm的大型印刷電路板的大型印刷電路板用型，適合對陶瓷芯片電極部分中，過去難以同時測量的Sn/Ni兩層進行高能測量的型。


兼顧易操作性與安全性
放大了開口，同時樣本室的門也可單手輕松開閉。從而提高了取出、放入檢測樣本的操作簡便性，并且該密封結(jié)構(gòu)也大大減少了X射線泄漏的風險，讓用戶放心使用。

檢測部位可見
通過設(shè)置大型觀察窗、修改部件布局，使得樣本室門在關(guān)閉狀態(tài)下亦可方便地觀察檢測部位。

清晰的樣本圖像
使用了分辨率比以往更高的樣本觀察攝像頭，采用全數(shù)碼變焦，從而消除位置偏差，可以清晰地觀察數(shù)十μm的微小樣本。
另外，亦采用LED作為樣本觀察燈，無需像以往的機型那樣對燈泡進行更換。
電鍍層膜厚儀Thick800A:

測量元素：原子序數(shù)13（Al）～92（U）
X射線源：管電壓：45 kV
FT：Mo FTh：W FTL：Mo
檢測器：Si半導體檢測器（SDD）（無需液氮）
型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
產(chǎn)品優(yōu)勢：
采用非真空樣品腔；專業(yè)用于PCB鍍層厚度，金屬電鍍鍍層分析；可同時分析鍍層中的合金成分比列；多鍍層，1～5層；

五金鍍層測量已成為加工工業(yè)、表面工程質(zhì)量檢測的重要環(huán)節(jié)，是產(chǎn)品達到優(yōu)等質(zhì)量標準的必要手段。為使產(chǎn)品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。
鍍層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。
五金鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上，通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度，因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右，所以不會對樣品造成損壞。同時，測量的也可以在10秒到幾分鐘內(nèi)完成。
五金鍍層測厚儀測量值精度的影響因素
1．影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。
c基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表
d邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
e曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h附著
按照標準指導性技術(shù)檔GB/Z 20288-2006《電子電器產(chǎn)品中有害物質(zhì)檢測樣品拆分通用要求》中規(guī)定：表面處理層應盡量與本體分離（鍍層），對于確定無法分離的鍍層，可對表面處理層進行初篩（使用X射線熒光光譜儀（XRF）手段），篩選合格則不用拆分；篩選不合格，可使用非機械方法分離（如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學溶劑溶劑提取額）。對鍍層樣品進行RoHS測試時，先用EDX0B儀器直接進行鍍層RoHS測試，如果合格則樣品符合RoHS標準。如果鍍層不合格將進行下步拆分測試。


鍍層測厚儀與傳統(tǒng)方法的區(qū)別：

項目

傳統(tǒng)化學分析方法（滴定法、ICP、AAS等方法和設(shè)備）

X熒光光譜分析方法

分析速度

分析速度比較慢，快速的測試方法也要10～30min得到測試結(jié)果

一般只需1～3min就可以得到測試結(jié)果結(jié)果

分析效果

測試結(jié)果受人為因素影響很大，測試結(jié)果重復性不高

幾乎無人為因素影響，測試精度很高，測試重復性很高

勞動強度

全手工分析勞動強度大

X測試過程大部分由儀器完成，人員勞動強度極低。

同時分析元素數(shù)

一般一次只能分析一個元素

同時可分析幾十種元素

是否與化學組份、化學態(tài)有關(guān)

受到待測元素的價態(tài)及化學組成的影響，樣品不同的價態(tài)和化學組成要采用不同的化學分析方法

純物理測量，與樣品的化學組份、化學態(tài)無關(guān)

分析測試成本

需要大量的化學品，和較復雜的處理過程，測試成本比較高

無需要制樣，不需要化學品，樣品處理過程簡單，測試成本很低

人員要求

對測試人員需要進行長期嚴格的培訓，人員操作技術(shù)要求高

對人員技術(shù)要求很低，普通的工人經(jīng)過簡單的培訓即可熟練操作使用
x射線熒光X-ray膜厚儀介紹
x射線熒光X-ray膜厚儀服務(wù)天瑞儀器公司專業(yè)生產(chǎn)膜厚儀X-ray檢測儀解決電鍍銅鎳厚度測試。天瑞儀器是金屬鍍層測厚儀三之一，另外兩個品牌分部是費希爾和牛津。天瑞的thick800a滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加。

良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測驗，是上招式設(shè)計的，自帶三維平臺，XYZ可定點，可全自動軟件操作，可多點測試，由軟件控制儀器的測試點。這款功能強大的儀器，配上天瑞儀器專門為其開發(fā)的鍍層測厚軟件，在鍍層檢測中可謂大展身手。
產(chǎn)品結(jié)構(gòu)圖：

技術(shù)指標
1、儀器尺寸：
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制
檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。
樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm
范圍：50(X)mm， 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm
2、儀器重量：90kg
3、SDD半導體探測器：
探測器輸入電壓：±12V，+5V
探頭窗口面積：25mm-2---
探頭窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃
4、X射線光管：
管壓：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：鈹窗
制冷方式：風冷
工作溫度：≤75℃
5、高壓發(fā)生器：
輸入電壓：24V
輸入電流：5A
管壓：0-50kV
管流：0-2
燈絲電壓：5V
燈絲電流：3.5A
6、MCA多道分析器：
輸入電壓：±12V，+5V
采樣頻率：100 KHZ
脈沖幅度：0-7.6V
A/D位數(shù)：12位
分析道數(shù)：2048道
7、準直器系統(tǒng)：
準直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)
濾光片：Mo(可根據(jù)要求選配)
8、高清晰攝像頭：
傳感器類型：CCD（彩色）
接口：U2.0
傳感器廠商：索尼
快門類型：面陣
光學尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感應度：0.58V（索尼標準）
顏色排列：RGB
幀率：30fps
快門速度：1/1538-1/30（秒）
9、自動對焦系統(tǒng)：
通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器
實現(xiàn)樣品高度的自動對焦。

應用領(lǐng)域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構(gòu)；電鍍行業(yè)。
產(chǎn)品輻射報告：

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產(chǎn)權(quán)的高科技企業(yè)，注冊資本46176萬。旗下?lián)碛刑K州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫偉業(yè)技術(shù)開發(fā)有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質(zhì)譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術(shù)有限公司、上海磐合科學儀器股份有限

售后服務(wù)：
公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務(wù)實、價格合理"的經(jīng)營合作理念,為您提供快速優(yōu)質(zhì)的技術(shù)服務(wù)。產(chǎn)品送貨，培訓安裝，耗材配件，實驗室打包解決方案。
專業(yè)的400售后維修，7*24小時在線，4小時響應，24小時。
X射線測厚儀thick800a是天瑞儀器專業(yè)研制的檢測金屬厚度的儀器，已經(jīng)在電鍍行業(yè)得到大規(guī)模的應用，深受客戶**。儀器采用獨特的上照式機構(gòu)，能夠適應各種不規(guī)則和體積大小樣品的表面鍍層測試。三維自動平臺，可實現(xiàn)X/Y/Z軸的自動定位，操作性能好。產(chǎn)品實際性能同類品牌三年以上。X射線電鍍層膜厚儀介紹及圖片：


X射線膜層測厚儀技術(shù)參數(shù)：


儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導體探測器：

探測器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內(nèi)制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1

材：W

窗口：鈹窗

制冷方式：風冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發(fā)生器：

輸入電壓：24V

輸入電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2

燈絲電壓：5V

燈絲電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數(shù)：12位

分析道數(shù)：4096道

7、準直器系統(tǒng)：

準直器：?0.1 mm(可根據(jù)要求選配)

濾光片：Al(可根據(jù)要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：U2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應度：0.58V（索尼標準）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動對焦系統(tǒng)：

通用數(shù)字激光傳感器、CMOS激光傳感器

實現(xiàn)樣品高度的自動對焦。



廠商實力：



江蘇天瑞儀器的發(fā)展得到了各級的大力支持與幫助，現(xiàn)任局、十二屆**會長，現(xiàn)任局、政協(xié)第十二屆全國會，時任局、副總理等各級多次來訪視察工作！



現(xiàn)任局、十二屆**會長等人來我公司調(diào)研

現(xiàn)任局常、政協(xié)第十二屆全國會委等參觀天瑞儀器


江蘇天瑞儀器股份有限公司被授予“火炬計劃重點高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省高新技術(shù)企業(yè)”，“江蘇省軟件企業(yè)”，“江蘇省科技創(chuàng)新示范企業(yè)”，“江蘇省規(guī)劃布局內(nèi)重點軟件企業(yè)”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術(shù)研究中心”等榮譽稱。產(chǎn)品具有國際的技術(shù)水平，X熒光光譜儀系列產(chǎn)品被認定為“重點新產(chǎn)品”和“江蘇省高新技術(shù)產(chǎn)品”。產(chǎn)品品種齊全，為環(huán)境保護與安全、工業(yè)測試與分析及其它領(lǐng)域提供專業(yè)解決方案。



X射線電鍍層測厚儀輻射安全許可證



X射線鍍層測厚儀計量證書。



售后服務(wù)體系：



只要客戶方的系統(tǒng)存在問題，請即刻我司的售后服務(wù)電話由我司技術(shù)工程師遠程指導用戶解決問題。免費服務(wù)電話：800-9993-800，24小時服務(wù)：400-7102-888

快速的現(xiàn)場服務(wù)

當客戶方的系統(tǒng)被診斷為系統(tǒng)故障，而無法通過電話／電子郵件方式、遠程撥入分析等手段解決時，我們的現(xiàn)場工程師會帶上相應的系統(tǒng)工具和軟件立即趕赴現(xiàn)場進行緊急維護。我司承諾在接到業(yè)主維修及技術(shù)服務(wù)要求后立即做出相應，在遠程不能解決問題的情況下，我司工程人員將在24小時內(nèi)趕到現(xiàn)場，48小時解決出現(xiàn)的問題，保證系統(tǒng)恢復正常運行。

定期訪問交流

定期訪問交流

在客戶系統(tǒng)運行過程中，我司將采取專人定期、不定期方式進行訪問交流，調(diào)查項目實施和維護情況，聽取用戶意見，現(xiàn)場解決用戶存在問題，現(xiàn)場對系統(tǒng)進行測試和優(yōu)化，及時發(fā)現(xiàn)系統(tǒng)存在的問題或潛在的故障，提前消除隱患，確保系統(tǒng)安全、穩(wěn)定的運行，并對此系統(tǒng)運行質(zhì)量評估。

以上客戶服務(wù)響應方式并不是相互孤立、互不相關(guān)的，而是以公司的客戶服務(wù)中心的組織結(jié)構(gòu)為依托，多種靈活的服務(wù)方式相互滲透、緊密結(jié)合成為完整統(tǒng)一的客戶服務(wù)故障響應體系。這種體系經(jīng)多個大型工作項目的實際運行體驗，以被認為是高效可行的故障響應方式。

故障響應

針對該項目我公司將以優(yōu)良的服務(wù)態(tài)度，我公司承諾在接到業(yè)主維修及技術(shù)服務(wù)要求后立即響應，在遠程能解決問題的情況下，30分鐘以內(nèi)響應，12小時以內(nèi)完成提出的維修要求，緊急情況2小時內(nèi)趕赴現(xiàn)場搶修，一般情況下24小時到達現(xiàn)場。若48小時內(nèi)無法解決問題，需更換設(shè)備或送修，我方承諾提供備機，保證系統(tǒng)恢復正常運行。



客戶服務(wù)網(wǎng)點

天瑞儀器已在國內(nèi)近30個主要城市設(shè)立客戶服務(wù)網(wǎng)點，提品現(xiàn)場維護與技術(shù)支持服務(wù)。服務(wù)網(wǎng)點售后服務(wù)工程師全部經(jīng)過嚴格專業(yè)培訓，具備豐富的產(chǎn)品安調(diào)與維護保養(yǎng)經(jīng)驗?？蛻舴?wù)網(wǎng)點同時設(shè)置備品備件庫，根據(jù)周邊地區(qū)客戶使用的天瑞儀器產(chǎn)品數(shù)量，配置充足的常用備品備件；根據(jù)備品備件消耗情況，由上級主管區(qū)域服務(wù)中心動態(tài)調(diào)配補充備品備件庫。
涂鍍層測厚儀精度的影響有哪些因素？
1．影響因素的有關(guān)說明
a基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準。
c基體金屬厚度每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的。
e曲率試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。
g表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g磁場周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h附著物質(zhì)本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i測頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù)，因此，要保持壓力恒定。
j測頭的取向測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

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