國產(chǎn)xrf光譜儀介紹
EDX4500 國產(chǎn)X熒光光譜儀是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司對復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準確分析。
該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的一致性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度;采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。
性能特點
專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。
內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器處理能力25倍。
針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。
電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。
智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。
技術(shù)指標(biāo)
測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)
元素含量分析范圍:1ppm—99.99
同時分析元素:24種元素同時分析
功能范圍:水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析
分析精度:0.05 (對含量96以上元素)
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
測量時間:60s—200s
能量分辨率為:(±5)eV
管壓:5KV—50KV
管流:50uA—1000uA
標(biāo)準配置
電制冷UHRD探測器
信噪比增強器
光路增強系統(tǒng)
內(nèi)置高清晰攝像頭
可自動切換型準直器和濾光片
的升降平臺
加強的金屬元素感度分析器
外觀尺寸: 650×608×466 mm
樣品腔尺寸:?315×95mm
重量:105kg
高效超薄窗X光管,指標(biāo)達到國際先進水平
新的數(shù)字多道技術(shù),讓測試更快,計數(shù)率達到0CPS,精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強器(SNE),提高處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素,對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去
測試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等,還可以廣泛應(yīng)用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。
本產(chǎn)品是在天瑞儀器多年貴金屬檢測技術(shù)和經(jīng)驗基礎(chǔ)之上研發(fā)的新型高端測試儀,采用新一代探測器及多道技術(shù),實現(xiàn)超高計數(shù)率,1秒出結(jié)果,準確分析貴金屬含量。同時,具備二維平臺及高清工業(yè)攝像頭,實現(xiàn)樣品定位。(可對99.99黃金進行有效分析)
性能特點
快,1秒鐘出結(jié)果
1、采用行業(yè)先進的極速探測器技術(shù)——(SDD)分辨率至125eV
優(yōu)勢:探測面積大(面積達25m㎡)、單位時間內(nèi)接受信息多、計數(shù)率高分辨率好
對貴金屬的探測效率更高,探測信噪比更強,檢出限更低
2、采用行業(yè)先進的數(shù)字多道技術(shù)
優(yōu)勢:有效提高輸出效率,實現(xiàn)超高計數(shù)率,保證采集有效計數(shù)率超過600KCPS
3、采用大功率X光管及先進的準直濾光系統(tǒng)
優(yōu)勢:使貴金屬的激發(fā)效率更高
4、光閘系統(tǒng)
優(yōu)勢:樣品更換無需關(guān)閉高壓,提高測試效率與測試精度
精密的定位系統(tǒng)
超高清晰工業(yè)攝像頭,更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動樣品臺——可實現(xiàn)圖像聯(lián)動控制,多點連續(xù)測試
超小樣品檢測——小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能,可根據(jù)不同樣品進行選擇
準直器小可達0.2毫米,針對超小樣品可準確聚焦檢測
可高效區(qū)分99.9及99.99黃金純度
可測量貴金屬中有害元素,鉛、鎘等
人性化的設(shè)計
更安全:X射線聯(lián)動安全裝置----光閘與聯(lián)動裝置互動;儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動
更快捷:多點測試,點哪測哪
預(yù)約預(yù)熱:根據(jù)設(shè)定時間,儀器可定時開始測試
預(yù)約開機預(yù)熱功能:客戶可預(yù)約儀器開機時間,同時可以儀器預(yù)熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài);同時可以實現(xiàn)預(yù)約關(guān)機,關(guān)機前可設(shè)定聲光提示
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍:硫(S)~鈾(U)
檢出限:分析檢出限可達2ppm,薄可測試0.005μm
元素含量分析范圍:2ppm~99.99
探測器:SDD探測器,分辨率可達125eV
管流:≤1000uA
管壓:5~50kV
測量時間:1s或以上(可調(diào))
濾光片:4種濾光片切換
準直器:8種準直器自動切換
樣品觀察:高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度:≤70
環(huán)境溫度:15℃~30℃
制冷方式:電制冷,無需任何耗材
輸入電壓:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
儀器配置
SDD探測器
數(shù)字多道分析系統(tǒng)
X射線源
高低壓電源
準直器濾光片系統(tǒng)
精密平臺
光閘系統(tǒng)
樣品觀測系統(tǒng)
XRF測試儀產(chǎn)品特點:操作界面簡單,測量方便,快捷無損檢測,在無標(biāo)準樣品時亦可準確分析采用1275eV的高精度分辨率,保證數(shù)據(jù)測量的精度。進口高端DSP數(shù)字處理芯片能夠檢測鹵族元素的含量電控全自動機蓋升降軟件控制同置高清晰攝像頭,可幫助客戶判斷測量的部位電制冷型的X光管配合光管保養(yǎng)程序,散熱更好,并能有效的X光管的壽命外觀高貴,加大儀器內(nèi)部空間,儀器內(nèi)部通風(fēng)性優(yōu),并有效屏蔽電磁干擾采用獨特位快速自動校準。自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成國際ling先的定量分析算法,包含F(xiàn)P法、檢量線法、經(jīng)驗系數(shù)法、理論系數(shù)法、網(wǎng)絡(luò)算法等客戶可根據(jù)自已的要求進行二次開發(fā),自行開發(fā)任意多個分析方法設(shè)置了自動安全防護開關(guān),以確保用戶安全使用。
XRF測試儀產(chǎn)品介紹及應(yīng)用范圍:環(huán)保是世界的潮流,不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件,世界各國都陸續(xù)了相關(guān)控制商品中有害元素含量的法規(guī),而且對有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢。面對這市場需求,秉譜儀器,無微不至的精神,采用zui新技術(shù),特別設(shè)計了520L系列的X熒光光譜儀。應(yīng)用領(lǐng)域:金屬冶金行業(yè)微量元素的分析及金屬中微量有害元素的分析環(huán)保土壤、空氣及水等介質(zhì)中痕量重金屬的分析金屬成品制造行業(yè)樹脂膜層中微量元素的分析,貴金屬行業(yè)中微量對人體有害元素微量元素的分析,稀土行業(yè)中微量元素的分析,金屬鍍層行業(yè)金屬鍍層亞納米級厚度的分析,外貿(mào)出口行業(yè)中對人體有害元素微量的分析,玩具出口行業(yè)中八大中金屬微量元素的分析.
儀器技術(shù)指標(biāo):
1、分析元素范圍 : 從硫(S)到鈾(U)
2、測試對象:固體、粉末、液體
3、元素含量分析范圍:1ppm—99.99
4、同時分析元素:幾十種元素同時分析
5、任意多個可選擇的分析和識別模型
6、相互的基體效應(yīng)校正模型
7、多變量非線性回歸程序
8、多次測量重復(fù)性可達:0.05 (含量大于96的樣品)
9、工作溫度:15℃—30℃
10、工作濕度:≤70
11、工作電壓:220V AC
12、樣品腔尺寸:*100mm
13、儀器尺寸:212*258*258mm
14、儀器重量:5kg
15、建議測量時間 10-200S可以調(diào)
儀器配置:
1、探測模塊:Si-PIN
2、X射線源:40kV、100uA
3、準直器:Ф1mm、Ф2mm和Ф4mm自動切換
4、濾光片:內(nèi)置Al Ti Cu
5、樣品腔:下照式,
6、高清晰、高分辨率的5寸PDA,軟件安裝在Microsoft Windows CE系統(tǒng)操作靈活簡單,很好的支持PDA系統(tǒng)升級和軟件升級
7、指示和警告:電源指示燈,輻射警告燈
8、保護系統(tǒng):上蓋打開時,高壓自動關(guān)閉
9、樣品放置:配萬向測試支架,隨心放置各種樣品
10、報告輸出:藍牙打印
11、安全防護箱:400*300*350mm,4.5kg
應(yīng)用領(lǐng)域
主要應(yīng)用黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測
產(chǎn)品型號:EDX 4500
產(chǎn)品名稱:X熒光光譜儀
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
測量時間:60秒-200秒
探測器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35-70
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
樣品腔體積:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、無損分析。
該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行精確分析,在冶煉過程控制中起到了測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率的作用。
另外,在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35-70
樣品腔體積:320mm×100mm
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試專用配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu),力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
解譜技術(shù)使譜峰分解,使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)(管壓、管流、真空度)一目了然
天瑞儀器公司是全球?qū)I(yè)生產(chǎn)高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司。2011年推出的高性能、臺式X熒光合金分析儀EDX3600H,融匯全球的合金分析技術(shù),配備合金測試效果的智能真空系統(tǒng),利用低能光管配合真空測試,可以有效的降低干擾,提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。
EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測試精度高、測試速度快、測試簡單等特點。
同時具有合金測試、合分析、有害元素分析,土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等,形態(tài)為固體、液體、粉末等。
性能特點:
高效超薄窗X光管,指標(biāo)達到國際先進水平
針對合金的測試而開發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
天瑞儀器專利產(chǎn)品—信噪比增強器(SNE),提高處理能力25倍以上
低能X射線激發(fā)待測元素,對Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性;
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的抑制;
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)(管壓、管流、真空度)一目了然
標(biāo)準配置:
合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
信噪比增強器 SNE
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu),力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
樣品腔體積:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
技術(shù)指標(biāo):
測量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99(不同元素,分析范圍不同)
同時分析元素:一次性可測幾十種元素
分析精度:0.05(含量高于96以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性)
測量時間:60秒-200秒
能量分辨率為:(140±5)eV
管壓:5KV-50KV
管流:50uA-1000uA
應(yīng)用領(lǐng)域:
檢測以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品
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